X射线荧光光谱法测定富含硫砷钒铁矿石中的主次量元素

详细信息   

• 责任者：张莉娟^c中国地质调查局天津地质调查中心^f工程师 ; 徐铁民 ; 李小莉 ; 安树清 ; 韩伟 ; 张楠 ; 刘义博
• 刊名：岩矿测试
• 出版年：2011
• 卷期：30^b6
• 关键词：X射线荧光光谱 ; 铁矿20^a标准样品 ; 检出限 ; 精密度 ; 矿物分离 ; 硫 ; 砷 ; 钒 ; 铁 ; 主要元素 ; 次要元素分析
• 页码：772～776
• 索书号：P340.6/357-2
• 图表：^c表6参30
• 分类号：2300
• 文摘期号：2012/07

摘要

以钴(钴玻璃粉形式)作内标元素，准确测定全铁含量;加入保护剂硝酸铵和稳定剂碳酸锂，使硫转化为硫酸盐，有效地防止硫的挥发损失。通过条件实验，确立了样品熔融温度和钴玻璃粉的用量。选择经筛选的仪器测定条件，用X射线荧光光谱法同时测定铁矿石中TFe、SiO₂、CaO、MgO、Al₂O₃、TiO₂、P、S、Mn、V₂O₅、As、K₂O、Na₂O、Cu、Ni等15种主次量元素。采用干扰曲线法对几乎完全重叠的Ti Κβ谱线与V Κα谱线进行谱线重叠校正，用理论α系数法校正基体效应。建立的方法可以准确测定全铁和质量分数高达5.29%的S。采用多种标准物质和人工配制标准物质制作工作曲线，可以测定质量分数为5.00%的V₂O₅及0.1%的As，测定值与标准值符合较好，除低含量钠外方法精密度(RSD)＜3.5%，分析误差符合实验质量要求。该法可以快速、准确地测定含砷的钒钛铁矿及含硫高的铁矿石中的主次量元素，满足了日常生产对铁矿石中硫和钒的测定要求。