全海洋浅地层剖面仪及其应用

详细信息   

• 责任者：吴水根^c国家海洋局第二海洋研究所国家海洋局海底科学重点实验室 ; 周建平 ; 顾春华 ; 李守军 ; 谭勇华
• 刊名：海洋学研究
• 出版年：2007
• 卷期：25^b2总99
• 关键词：海洋物探20^a仪器30^a浅地层剖面仪
• 页码：91～96
• 索书号：P226.06/334-1
• 图表：^c参4插图
• 分类号：2100,0700
• 文摘期号：2008/01

摘要

全海洋浅地层剖面仪(Topographic Parametric Sonar,TOPAS)PS 018系统是目前世界上最先进的浅地层剖面仪之一。该系统是全海洋宽带非线性差频浅地层剖面仪,可对海底地层进行全方位测量,同时还兼有测量水深的功能,最大地层穿透深度为150 m,最小分辨率为0.3 m。系统多种发射信号(Ricker波、Burst波和Chirp波)的选取方便了操作者使用,从理论上实现了全海洋测量功能。从实测剖面分析,该系统是中、深水地层测量的理想测量系统。