全息干涉法测量Ⅰ型结构面K_Ⅰ技术路线

详细信息   

• 责任者：胡秀宏^c中国科学院地质与地球物理研究所工程地质力学重点试验室^d1980^e博士研究生 ; 伍法权 ; 刘海燕^c山东科技大学
• 刊名：岩土力学
• 出版年：2008
• 卷期：29^b11总155
• 关键词：岩体结构 ; 激光法20^a断裂 ; 结构面 ; 应力 ; 强度 ; 边界条件 ; 岩体力学30^a全息干涉
• 页码：3124～3127，3143
• 索书号：P478.06/357
• 图表：^c参9插图
• 分类号：1600
• 文摘期号：2009/05

摘要

岩体Ⅰ型结构面应力强度因子K_Ⅰ是岩体的一个重要参数,求取K_Ⅰ的过程需确定结构面几何影响因子γ。根据修正的Feddersen公式,可以制作出与工程岩体Ⅰ型结构面具有相同γ的试验岩石模型。根据激光全息干涉法两次曝光法的理论,结合裂纹尖端的应力场方程组、平面光弹性的应力‐光定律,建立新的标准化试验方法和算法,可以构建出使用激光全息干涉法2次曝光法测量工程岩体Ⅰ型结构面应力强度因子K_Ⅰ的试验技术路线,该法具有条纹易识别,精度高的优点。