X射线荧光光谱法测定地质样品中的氯和硫

详细信息   

• 责任者：袁家义^c山东地质科学实验研究院 ; 白雪冰 ; 王卿 ; 周长祥
• 刊名：岩矿测试
• 出版年：2004
• 卷期：23^b3总91
• 关键词：氯 ; 硫 ; Ｘ射线荧光20^a检出限 ; 精密度 ; 准确度
• 页码：225～227
• 索书号：P340.6/357-2
• 图表：^c表5参2
• 分类号：2300
• 文摘期号：2005/04

摘要

使用粉末压片‐X射线荧光光谱法测定地质样品中的Cl和S，探讨了样品放置时间、环境以及建立真空的时间对测量结果的影响。Cl的精密度(RSD，n=6)小于10%，S的精密度(RSD，n=6)小于5%。Cl和S的方法检出限分别为14和11 μg/g，采用国家标准物质分析验证方法，其结果与标准值相符。