共价氢化物与汞离子反应的研究——痕量锗高灵敏度分析方法

详细信息   

• 责任者：石崴^c中科院长春应化所 ; 胡涛
• 刊名：分析试验室
• 出版年：1996
• 卷期：１５^b４
• 关键词：原子荧光光谱法 ; 锗20^a痕量元素分析 ; 灵敏度30^a氢化法
• 页码：６８～７０
• 索书号：P155.06/149-9
• 图表：表１参５插图
• 分类号：2300
• 文摘期号：1997/00

摘要

报道了一种氢化物发生（ＨＧ）冷原子荧光法间接测定痕量锗的新方法。试验、选择了ＧｅＨ４形成及与Ｈｇ２＋反应的最佳条件；作了近１０种共存离子允许量实验，从中发现Ｋ２Ｃｒ２Ｏ７酸性溶液可完全吸收除ＧｅＨ４外所有的氢化物。将气体分离柱置于ＨＧ与吸收部分之间，使ＧＨ、干扰消除及被测氢化物的吸收在同一系统中同时进行，从而使方法具有简便快速等特点，并消除了Ａｓ３＋、Ｓｂ３＋、Ｂｉ３＋、Ｓｎ４＋、Ｓｅ２＋、Ｔｅ２＋、Ｓ２－等的干扰。拟定了样品分析步骤，用于水样及植物样品的分析，其分析结果的置信度为９６％（ｎ＝５），加标回收率为９１％－９４７％（ｎ＝５），对水样中测Ｇｅ的检出限为０１μｇ／Ｌ。（方史石）