粉晶X射线衍射法在岩石学和矿物学研究中的应用

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• 责任者：庞小丽^c北京北达燕园微构分析测试中心有限公司^d1981^e硕士 ; 刘晓晨^c北京大学 ; 薛雍 ; 江向锋 ; 江超华
• 刊名：岩矿测试
• 出版年：2009
• 卷期：28^b5总117
• 关键词：X射线衍射分析 ; 岩石学 ; 矿物学20^a粉末法 ; 应用 ; X射线衍射数据
• 页码：452～456
• 索书号：P340.6/357-2
• 图表：^c参22
• 分类号：2300
• 文摘期号：2010/02

摘要

X射线衍射是测定物质结构的主要分析手段，广泛应用于物理学、化学、医药学、金属学、材料学、工程技术学、地质学和矿物学。该文综述了粉晶X射线衍射法在造岩矿物、黏土矿物、岩组学、类质同象和结晶度的测定等领域发挥的重要作用。随着测量技术的发展，粉晶X射线衍射在矿物结晶过程中的研究、矿物表面研究、矿物定量相分析和矿物晶体结构测定方面均有新的应用。