铜钴矿样品X荧光快速测定技术的初步研究

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• 责任者：林延畅^c成都理工大学 ; 葛良全 ; 姜海静 ; 赖万昌 ; 张庆贤 ; 曾兵 ; 程锋 ; 王广西
• 刊名：物探化探计算技术
• 出版年：2007
• 卷期：29^b3总113
• 关键词：X射线荧光 ; 铜矿 ; 钴矿20^a荧光分析 ; 化学分析
• 页码：256～259
• 索书号：P630.6/363-14
• 图表：^c表2参7插图
• 分类号：2300
• 文摘期号：2008/03

摘要

使用基于Si‐PIN探测器和嵌入式计算机的便携式高能量分辨率X荧光(XRF)分析仪,对采自刚果(金)的铜钴矿样品进行测量。通过对实测数据的处理与分析,分含量段建立目标元素的工作曲线,同时求出相应的基体效应校正模型,并编制到仪器内置X荧光分析应用软件中。实现仪器根据实测多道微分谱线中相关元素的特征X射线计数率,自动切换工作曲线与基体效应修正模型,快速输出Cu和Co的含量的测定结果。通过与化学分析结果比较,快速测定结果精确度较高。