X射线荧光光谱法测定铁矿石的化学成分

详细信息   

• 责任者：仵利萍^c中国地质科学院矿产综合利用研究所^d1977^f工程师 ; 刘卫
• 刊名：矿产综合利用
• 出版年：2010
• 卷期：^b3总163
• 关键词：X射线荧光光谱 ; 铁矿20^a矿石 ; 化学成分 ; 熔融 ; 检出限 ; 精密度 ; 准确度
• 页码：42～45
• 索书号：P770.6/967
• 图表：^c表5参10
• 分类号：2300
• 文摘期号：2010/12

摘要

应用X射线荧光光谱法测定铁矿石中铁等多种元素时，采用了熔融片制样，以消除矿物结构效应，降低基体效应的影响。并研究了熔样的条件，确定了仪器最佳参数，然后建立工作曲线。实验证明，该法快速、准确，能很好地对铁矿石进行测定，不仅大大缩短了分析时间，提高了工作效率，而且降低了劳动强度。