偏振能量色散X射线荧光光谱法测定地质样品中18种元素

详细信息   

• 责任者：王祎亚^c国家地质实验测试中心^d1978^f助理研究员 ; 詹秀春 ; 刘以建 ; 樊兴涛 ; 周伟
• 刊名：分析试验室
• 出版年：2009
• 卷期：28^b9
• 关键词：X射线荧光光谱 ; 痕量元素分析20^a硅酸盐矿物 ; 样品制备 ; 标准样品 ; 检出限 ; 精密度 ; 准确度30^a不确定度
• 页码：90～94
• 索书号：P155.06/149-9
• 图表：^c表4参22插图
• 分类号：2300
• 文摘期号：2010/02

摘要

利用偏振能量色散X射线荧光光谱仪分析了硅酸盐基体样品。选取岩石、土壤、水系沉积物等国家一级标准物质，采用镶边粉末压片方法，选择Al₂O₃偏振靶、Mo、Co二级靶，在真空状态下对K、Ca、Ti、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Ba、Pb等18种元素进行选择激发和探测，所有元素的校正选用扩展的康普顿散射校正模型。各元素的检出限为0.41～0.9 μg/g;除了As元素外，均达到了1∶25万多目标地球化学调查规范的要求。根据60个地质调查多目标考核样品的分析结果，采用Rousseau(2001)所提出的相对不确定度计算方法，对所建立的方法进行了评估。