运用双电层模型分析薄储集层

详细信息   

• 责任者：Liu ; C.B.2300^a夏竹君 ; 王东生 ; 薛明霞
• 刊名：测井与射孔
• 出版年：2005
• 卷期：8^b1总29
• 关键词：电阻率测井 ; 储层评价20^a各向异性 ; 电测井 ; 地球物理测井 ; 模型30^a薄层 ; 双电层模型
• 页码：32～39
• 索书号：P635.063/649
• 图表：^c表2插图
• 分类号：2100,0831
• 文摘期号：2005/12

摘要

近几年发表了几种分析电阻率各向异性的方法，但都只适用于特殊的地质情况。该文介绍了这些方法的优点和缺点，并提出了一种研究电阻率各向异性的新方法，即双电层模型(DEL)。该方法运用探测深度较浅的高分辨电阻率曲线计算低阻层体积含量，运用探测深度较深的低分辨电阻率曲线确定薄层的平均径向电阻率R_h和纵向电阻率R_v，再结合低分辨率总Φ_t，可计算得到S_vt。DEL模型的优点是：双电层模型和滑动时窗能模拟大多数电阻率各向异性的复杂地层。利用理论计算和实际测井例子证明DEL方法，以及它在计算薄层含油气体积方面的应用。