铜试金预富集‐辉光放电质谱法测定贵金属矿样中痕量铂钯铱金

详细信息   

• 责任者：陈丁文^c云南警官学院^d1972^e硕士 ; 李斌 ; 董守安^c昆明贵金属研究所 ; 普朝光^c昆明物理研究所
• 刊名：岩矿测试
• 出版年：2008
• 卷期：27^b5总111
• 关键词：铂 ; 钯 ; 铱 ; 金 ; 质谱法20^a贵金属矿 ; 痕量元素 ; 回收率 ; ICP ; 预处理
• 页码：329～332
• 索书号：P340.6/357-2
• 图表：^c表3参1插0图
• 分类号：2300
• 文摘期号：2009/03

摘要

对利用铜试金预富集后辉光放电质谱法(GDMS)测定贵金属矿样中痕量Pt、Pd、Ir、Au的方法进行了探索性研究。着重考察了铜试金条件的选择和辉光放电电极的匹配、质谱的测定条件和测定方法等。分析结果表明,痕量(μg级)贵金属元素Pt的含量在1.99～15.0 μg,回收率为92.0%～111.9%;Pd的含量在3.15～29.78 μg,回收率为88.4%～113.3%;Ir的含量在0.12～0.60 μg,回收率为68.3%～100.0%;Au的含量在10.43～24.0 8μg,回收率为98.9%～127.0%。方法可应用于矿石、矿物及其他物料中痕量贵金属的分析。