在硅酸盐矿物，玻璃和熔体中Ｓｉ和Ａｌ的配位与局部结构：Ｋ边Ｘ射线吸收光谱研究

详细信息   

• 责任者：彭明生^c中山大学 ; 李迪恩
• 刊名：光谱学与光谱分析
• 出版年：2000
• 卷期：２０^b３
• 关键词：Ｘ射线分析 ; 吸收光谱学 ; 配位体20^a硅 ; 铝 ; 硅酸盐矿物 ; 晶体结构 ; 实验研究30^a同步辐射 ; Ｋ—边
• 页码：４０２～４０５
• 索书号：P342.06/220
• 图表：参９插图
• 分类号：2300
• 文摘期号：2001/00

摘要

采用同步辐射的Ｓｉ Ｋ边Ｘ射线吸收近边结构（ＸＡＮＥＳ）谱研究了Ｓｉ在ＳｉＯ２Ｐ２Ｏ５和Ｎａ２ＯＳｉＯ２Ｐ２Ｏ5的低压磷硅酸盐玻璃中结构与配位，以及Ｓｉ的配位几何随玻璃中Ｐ２Ｏ５含量而变化：同步辐射的Ａｌ Ｋ边ＸＡＮＥＳ谱研究了Ａｌ在铝硅酸盐成分为ＮａＡｌＳｉ２Ｏ６ＮａＡｌＳｉ３Ｏ８的玻璃和熔体中的配位和局部结构，并提供了直接的实验证据来证明该成分的玻璃体系中由于压力的变化所诱导Ａｌ配位的变化。（黄文录）