钕‐依诺沙星‐十六烷基三甲基溴化铵体系导数光度法测定钕

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• 责任者：冯玉^c山东大学 ; 姜玮 ; 王乃兴 ; 赵文渊
• 刊名：分析化学
• 出版年：2003
• 卷期：31^b1
• 关键词：钕 ; 分光光度法20^a试剂 ; 检出限 ; 痕量元素分析30^a导数光度法
• 页码：92～94
• 索书号：P155.06/149-2
• 图表：^c表1参6插图
• 分类号：2300
• 文摘期号：2003/07

摘要

详细研究了钕‐依诺沙星(ENX)‐十六烷基三甲基溴化铵(CTMAB)体系的常规吸收光谱和导数吸收光谱性质，发现阳离子表面活性剂对Nd‐ENX体系吸收强度有增强作用。采用二阶导数光谱不仅消除了有关干扰，而且灵敏度较常规光谱法提高了7.2倍。探讨了利用该体系以二阶导数分光光度法测定钕的最佳条件及影响因素。在最佳实验条件下，Nd的浓度在1.2×10^-5～2.7×10^-4 mol/L范围内与体系吸光度的二阶导数呈线性关系；检测限为1.04×10^-5mol/L(S/N=2)。利用该体系对稀土样品中的钕含量进行了测定，结果令人满意。（怡然录）