核地球物理学Ｘ辐射取样技术研究和应用

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• 责任者：章晔^c中国地质大学（北京） ; 程业勋 ; 葛良全 ; 侯胜利 ; 陈友红
• 刊名：物探与化探
• 出版年：1996
• 卷期：２０^b１
• 关键词：Ｘ射线光谱学 ; 取样20^a金属矿 ; 放射性测量 ; 技术 ; 分析仪器30^a核地球物理学 ; Ｘ辐射取样
• 页码：２３～２７
• 索书号：P630.6/363-11
• 图表：表１参５插图
• 分类号：2100,1900
• 文摘期号：1996/08

摘要

X辐射取样的物理基础是原子物理学中的莫塞莱定律，即元素原子放出的特征X射线能量与原子序数的平方成正比。因此，当岩(矿)石中的目标元素受到放射性同位素源的辐照时，通过测量目标元素放出的特征X射线的能量，可定性确定目标元素的种类，由有关数学表达式也可定量确定目标元素的念量。该方法在取样中存在三个关键性技术问题：不平度效应、不均匀效应和基体效应。文中对这三个问题进行了研究，提出了解决的方法技术。X辐射取样技术与传统的刻槽取样方法相比具有以下显著优点：1该方法是用携带式X射线荧光仪在岩石露头上原位测量，实时确定矿石品位，从根本上消除了刻槽取样、样品加工和缩分等生产流程中人为因素引起的较大误差；2现场实时提供取样结果，每点测量时间仅数十秒钟；3原位测量，无破坏性、无污染。该方法已成功地应用于金、锡和钢等矿种的普查、勘探和开采中，取得了显著的地质效果和经济、社会效益。(熊明)