方位电阻率成象:新一代侧向测井
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摘要
该文介绍了新一代侧向测井仪:方位侧向电阻率成象仪(ARI)。ARI可在井眼周围进行深探测方位电阻率测量,其纵向分辨率高于双侧向测井(DLL)。它将12个方位电极装入DLL电极系,在保留深侧向和浅侧向测量的同时,提供12条深探测方位电阻率曲线,由装在方位阵列上的浅探测辅助测量作方位电阻率的井眼校正。全覆盖式方位电阻率成象的空间分辨率虽比全井眼微电阻率成象低,但其浅探测灵敏度低则可弥补这一点。探测深度与深侧向测井相当。方位电极系还可同时进行12道浅探测的辅助测量用来校正仪器定位和井眼形状不规则时得出的方位电阻率,可校正“格罗宁根”效应。实例表明ARI提高了薄交互层、非均质地层的评价水平。ARI对裂缝的反映强烈,方位电阻率成象和由其计算出的裂缝倾角与微地层电阻率成象结果吻合。ARI的定量成象能力填补了纵向分辨率高的定性微地层电阻率成象与倾角仪及纵向分辨率低的定量电阻率测量之间的空挡。(熊明)

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