薄层测井与评价

详细信息   

• 责任者：Ｂｏｙｄ ; Ａ2600^a陈治华 ; 高宝善 ; 邱玉春
• 刊名：国外油气勘探
• 出版年：1997
• 卷期：９^b３总５１
• 关键词：地球物理测井 ; 油气勘探20^a高分辨率法 ; 电阻率测井 ; 核磁测井 ; 组合测井 ; 随钻测井 ; 数据处理30^a薄层
• 页码：３７９～３８４
• 索书号：P613.06/627-6
• 图表：表１插图
• 分类号：2100,0831
• 文摘期号：1997/10

摘要

解决薄层的电阻率测量方法是要研制纵向分辨率高、探测深度大，或两者兼而有之的测井仪。在薄层评价中，阵列感应成像仪和全井眼地层微成像仪是两种很有用的仪器。随钻测量技术的改进，不仅提高了定向钻井效率，而且提高了薄层评价水平。钻头电阻率测井仪和阵列电阻率补偿测井仪在薄层环境中很有用，这两种仪器能在侵入腐蚀地层之前提供地层电阻率数据。核磁共振测井能测定与黏土、与小粒度有关的残余水饱和度。可组合的磁共振测井仪在测量残余水饱合度和孔隙尺寸方面很有潜力，在评价低阻层中，其优势明显。另外，可通过数据处理提高分辨率，改善薄层评价。（章欣阳）