二次离子质谱仪(SiMS)对矿物中单个流体包裹体进行元素分析:太古宙中温热液金一石英脉中流体包裹体阳离子比的应用
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  • 出版年:1992
  • 作者:L.W.Diamond
  • 译者:龙洪波;陈晓枫
  • 语种:中文
  • 起始页:47
  • 总页数:8
  • 刊名:地质地球化学
  • 是否内版:否
  • 刊频:双月刊
  • 创刊时间:1973
  • 主办单位:中国科学远地球化学研究所
  • 地址:贵阳市观水路73号
  • 邮编:550002
  • 期:1
  • 期刊索取号:P270.6208-3
摘要
使用CAMECA-4F型离子探针的SIMS方法已经达到这样的水平,即可定量分析预选的直径小至3μm、盐度稀达0.37mol%的单个流体包裹体的元素比。该方法首先由Nambu等(1977)进行过尝试,是在真空中用1.25keV的氧离子(O-)束轰击寄主晶,来打开流体包裹体,因而对样品是破坏性的。在质谱仪中分析发射的二次离子,其强度与作靶用的包裹体中母体元素的浓度成正。Na-mbu等(1977)分析冷冻包裹体,获得了包裹体中液体的K/Na比和Ca/Na比,其相对重现性(2σ/x)分别为50-85%和80-200%。
     对Na+、K+、Ca+的二次离子生成量用总盐度为0.37-3*3 mol%,且K/Na、Ca/Na比为0.0051.0的合成流体包襄体进行经验校正。由此得出,采自马尼托巴东南部比塞特的圣安东尼奥太古宙金矿床的石英中单个含金流体包裹体中的K/Na=0.036+0.04/-0.02,Ca/Na= 0.034+0.07/一0.03.一次离子束的最佳空间控制允许打开单个包裹体,而不影响相邻的包裹体。此方法最为有效的应用是分析含多个世代流体包裹体的天然样品。

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