金属钽丝表面的X射线光电子能谱分析
详细信息   全文下载|推荐本文 |
  • 出版年:2006
  • 作者:李人哲
  • 单位1:西北工业大学理学院应用化学系
  • 出生年:1980
  • 学历:硕士研究生
  • 语种:中文
  • 作者关键词:钽;XPS;原子浓度
  • 起始页:564
  • 总页数:3
  • 刊名:稀有金属
  • 是否内版:否
  • 刊频:双月刊
  • 创刊时间:1977
  • 主管单位:中国有色金属工业协会
  • 主办单位:北京有色金属研究总院
  • 主编:屠海令
  • 地址:北京新街口外大街2号
  • 邮编:100088
  • 电子信箱:xxsf@grinm.com
  • 网址:http://www.grinm.com.cn
  • 卷:30
  • 期:4
  • 期刊索取号:P755.06 709-1
  • 数据库收录:中文核心期刊;冶金工业类核心期刊;美国化学文摘(CA)源期刊;中国科技论文统计源期刊;中国科学引文数据库源期刊;中国物理学文献数据库原期刊
  • 核心期刊:中文核心期刊;冶金工业类核心期刊
摘要
用X射线光电子能谱(XPS)对金属钽丝表面进行了分析和研究。通过XPS全程宽扫描和窄扫描,分析了钽丝表面的元素成分和钽的化学态。分析结果表明,钽丝表面的元素成分为Ta,C,O,F,S,Cl,P,Fe,Si,Ni,Cr,Ti,Nb,W,Al。对溅射5min前后的Ta4f峰进行曲线拟合,分别得到2个Ta峰和4个Ta峰,对拟合后各个Ta峰的相对位置进行分析,可以得出以上各个Ta峰的化学态;钽丝表面钽的化学态分别为,溅射前Ta2O5和Ta5Si3,溅射后Ta,Ta2O5,Ta5Si3

© 2004-2018 中国地质图书馆版权所有 京ICP备05064691号 京公网安备11010802017129号

地址:北京市海淀区学院路29号 邮编:100083

电话:办公室:(+86 10)66554848;文献借阅、咨询服务、科技查新:66554700