XRF基本参数法测量和计算电子材料的组成
- 出版年：1997
- 作者：眭松山；魏军；史青
- 单位1：电子科技大学信息材料工程学院
- 语种：中文
- 作者关键词：XRF法；基本参数；浓度测量
- 起始页：99
- 总页数：6
- 刊名：光谱学与光谱分析
- 是否内版：否
- 刊频：双月刊
- 主办单位：中国光学学会
- 主编：姚元恺
- 卷：17
- 期：3
- 期刊索取号：P342.06220
摘要
本文主要探讨用XRF基本参数法测定电子陶瓷材料的成分含量，计算所需的基本参数都通过数学计算处理，用C语言设计编成测试软件。该法也适用于定量分析合金材料成分，稳定性和重现性好，高含量时的测试误差小于3%，低含量的误差也较小。