基于频谱分析的脉冲涡流检测提离消除技术
- 出版年：2008
- 作者：李斌；王晓锋；荆炳礼
- 单位1：空军工程大学电讯工程学院
- 出生年：1982
- 学历：硕士研究生
- 语种：中文
- 作者关键词：脉冲涡流检测；提离效应；频谱分析；低频峰值
- 起始页：923
- 总页数：4
- 经费资助：国家科技支撑计划项目（2006BAK02B02）
- 刊名：无损检测
- 是否内版：否
- 刊频：月刊
- 创刊时间：1979
- 主管单位：中国科学技术协会
- 主办单位：中国机械工程学会；上海材料研究会
- 主编：王务同
- 地址：上海市邯郸路99号
- 邮编：200437
- 电子信箱：ndt@mat-test.com；jndt@21cn.com
- 网址：http://www.mat-test.com；http://www.chsndt.com
- 卷：30
- 期：12
- 期刊索取号：P830.6 141-1
- 数据库收录：全国中文核心期刊；中国科技核心期刊；中国科技论文统计源期刊；中国科学引文数据库来源期刊；EiPageOne和PЖ收录期刊；中国学术期刊（光盘版）收录期刊；中国期刊网收录期刊；中国核心期刊（遴选）数据库收录期刊；中国科协优秀科技期刊；国家机械行业优秀期刊；上海市优秀科技期刊
- 核心期刊：全国中文核心期刊；中国科技核心期刊；中国核心期刊（遴选）数据库收录期刊
摘要
脉冲涡流检测中由于探头倾斜等原因容易产生提离效应，严重影响缺陷的定量精度。利用激励脉冲频率成分丰富的特点，提出了一种基于频谱分析的提离效应消除新方法。通过试验发现，经该方法处理后的有提离的原始检测信号在低频部分已基本重合，消除了提离效应对低频的影响，且可通过提取低频特征值对缺陷的深度进行定量。试验结果证明，该方法可以有效地消除提离效应，提高缺陷的定量检测精度。