高密度电阻率法在滑坡探测中的应用
详细信息   全文下载|推荐本文 |
  • 出版年:2008
  • 作者:江玉乐;周清强;黄鑫;张朝霞
  • 单位1:成都理工大学信息工程学院
  • 出生年:1952
  • 职称:副教授
  • 语种:中文
  • 作者关键词:高密度电法;滑坡体;隐患;地质灾害;色谱图
  • 起始页:542
  • 总页数:5
  • 刊名:成都理工大学学报(自然科学版)
  • 是否内版:否
  • 刊频:双月刊
  • 创刊时间:1960
  • 主管单位:四川省教育厅
  • 主办单位:成都理工大学
  • 主编:刘家铎
  • 邮编:610059
  • 卷:35
  • 期:5
  • 期刊索取号:P206.6 228
  • 核心期刊:中国核心期刊
摘要
探测查明水库库区滑坡体的工程地质特点,才能对滑坡进行有效的治理。论文中简要介绍了探测确定滑坡体的意义、高密度电阻率法的应用前提、优势,结合在某水库库区滑坡体探测,获得了测区部位的二维高密度电阻率反演断面色谱图,通过对视电阻率二维成像图异常形态、高低阻等特征的分析,推断出覆盖层厚度、基覆界线,从而查明了滑坡体厚度及滑面起伏形态,为库区稳定性评价提供了依据。

© 2004-2018 中国地质图书馆版权所有 京ICP备05064691号 京公网安备11010802017129号

地址:北京市海淀区学院路29号 邮编:100083

电话:办公室:(+86 10)66554848;文献借阅、咨询服务、科技查新:66554700