基于超声声压反射系数相位谱法的热障涂层非均匀性表征

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• 出版年：2010
• 作者：赵扬；林莉；顾晓春；李喜孟；雷明凯
• 单位1：大连理工大学无损检测研究所
• 出生年：1982
• 学历：博士研究生
• 语种：中文
• 作者关键词：超声表征；相位谱；Cr₂O₃涂层；密度；非均匀性
• 起始页：485
• 总页数：5
• 经费资助：国家自然科学基金资助项目（50401021）
• 刊名：无损检测
• 是否内版：否
• 刊频：月刊
• 创刊时间：1979
• 主管单位：中国科学技术协会
• 主办单位：中国机械工程学会；上海材料研究所
• 主编：王务同
• 地址：上海市邯郸路99号
• 邮编：200437
• 电子信箱：ndt@mat-test.com
• 网址：http://www.mat-test.com；http://www.chsndt.com
• 卷：32
• 期：7
• 期刊索取号：P830.6 141-1
• 数据库收录：全国中文核心期刊（一、四）；中国科技核心期刊；中国科技论文统计源期刊；中国科学引文数据库来源期刊；中国学术期刊（光盘版）收录期刊；中国期刊网收录期刊；中国核心期刊（遴选）数据库收录期刊；中国科协优秀科技期刊；国家机械行业优秀期刊；上海市优秀科技期刊
• 核心期刊：全国中文核心期刊（一、四）；中国科技核心期刊；中国核心期刊（遴选）数据库收录期刊

摘要

利用声压反射系数相位谱法对厚度为（50±5）µm，等离子体喷涂方法制备的Cr₂O₃陶瓷涂层的非均匀性进行了超声表征。对试样不同位置进行了声压反射系数幅度谱和相位谱测试分析，发现由相位谱测得的不同位置的声速值存在差异并且相位谱极值间的变化规律相反。结合扫描电镜（SEM）分析，认为这种差异是由涂层中孔隙与裂纹密集程度不同所引起的。借助数值计算，分析了涂层密度对相位谱的影响，进而解释了同一涂层试样相位谱极值间变化规律相反的原因。试验和数值计算结果表明，声压反射系数相位谱对涂层内部组织结构的变化更为敏感，可以用来表征涂层的非均匀性。