粉体颗粒细度对多层片式氧化锌压敏电阻器性能的影响

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• 出版年：2005
• 作者：钟明峰；苏达根；庄严
• 单位1：华南理工大学特种功能材料及其制备新技术教育部重点实验室
• 出生年：1976
• 学历：博士研究生
• 语种：中文
• 作者关键词：多层片式压敏电阻器；粉体颗粒细度；膜片质量；电性能
• 起始页：117
• 总页数：4
• 经费资助：广州市重点科技攻关项目（2002Z2-D0011）
• 刊名：材料导报
• 是否内版：否
• 刊频：月刊
• 创刊时间：1987
• 主办单位：科学技术部西南信息中心
• 主编：彭丹
• 地址：重庆市渝中区胜利路132号
• 邮编：400013
• 电子信箱：mat-rev@163.com；matreved@163.com
• 网址：http://www.mat-rev.com
• 卷：19
• 期：6
• 期刊索取号：P822.06 432
• 数据库收录：全国中文核心期刊；中国科学引文数据库来源期刊；中国科技论文统计源期刊
• 核心期刊：全国中文核心期刊

摘要

通过调整Bi₂O₃、Sb₂O₃、TiO₂、B₂0₃、BaCO₃等少量添加剂的掺量，可在低温880℃下与10%Pd-90%Ag内电极共烧，制得性能优良的多层片式氧化锌压敏电阻器（ZnOMLCV）。主要采用两种不同颗粒细度的ZnO粉体来研究粉体颗粒细度对多层片式氧化锌压敏电阻器性能的影响。研究发现适当地使用部分超细ZnO粉体，改善ZnO粉体的颗粒分布，再使用适量的磷酸酯作为分散剂，可以流延制得较致密、平整、均匀的膜片，从而制得瓷体的致密性较高，且非线性系数较高、漏电流较低、峰值电流及能量耐量较高的多层片式压敏电阻器；而ZnO粉体颗粒粒径太大及过细，都会影响膜片的质量，进而影响多层片式压敏电阻器的性能。XRD衍射分析发现ZnO粉体颗粒细度的改变对瓷体的物相组成无明显影响。