HgCdTe中少数载流子寿命的微波反射法测量
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- 出版年：2004
- 作者：刘志存
- 单位1：陕西师范大学物理学与信息技术学院
- 语种：中文
- 作者关键词：微波检验;栽流子；寿命
- 起始页：28
- 总页数：2
- 刊名：无损检测
- 是否内版：否
- 刊频：月刊
- 创刊时间：1979
- 主管单位：中国科学技术协会中国机械工程学会
- 主办单位：上海材料研究所
- 主编：王务同
- 地址：上海市邯郸路99号
- 邮编：200437
- 电子信箱：ndt@mat-test.com;jndt@21ca.com
- 网址：www.mat-test.com;www.chsndt.com
- 卷：26
- 期：01
摘要
用微波反射法测量HgCdTe中少数栽流子寿命。分析了其测量原理，并与接触式的光电导衰减法进行了对比。结果表明，被测样品HgCdTe中的电学性能并不均匀，用微波反射法更能真实地反映样品光照区域少数栽流子的寿命。