全反射X射线荧光分析

详细信息    全反射X射线荧光分析

• 责任者：克洛肯凯帕
• 关键词：X射线荧光
• 出版日期：2002
• 语种：chi
• 出版者：原子能出版社
• 页数：5，237页
• 出版地：北京
• 第一责任说明：(德)克洛肯凯帕(R. Klockenkamper)著
• 其余责任说明：王晓红，王毅民，王永奉译
• 定价：CNY28.00
• 尺寸：20cm
• 分类号：a155.436
• ISBN：7-5022-2678-8

MARC全文

0100021746；20030620144528.0；7-5022-2678-8；平装；CNY28.00；20030507d2002 em y0chiy0110 ea；chi；ger；CN；110000；ak z 000yy；r；全反射X射线荧光分析；quan fan she X she xian ying guang fen xi；(德)克洛肯凯帕(R. Klockenkamper)著；王晓红，王毅民，王永奉译；北京；原子能出版社；2002；5，237页；插图，表；20cm；原文书名：Total-reflection X-ray fluorescence analysis；本书全面总结了全反射X射线荧光(TXRF)自1971年出现1980年第一台商品仪器问世以来，在理论、仪器和应用方面的进展，系统而详细地阐述了TXRF的原理，仪器装置和多方面的独特性能，特别着重其在各学科领域的应用并与其它原子光谱学方法作了多方面的对比。；X射线荧光；荧光分析 ; 应用；O657.34；4；a155.436；克洛肯凯帕；R.；(Klockenkamper，R.)；著；王晓红 ; 王毅民 ; 王永奉；译 ; 译 ; 译；CN；NGL；20030620；NGL；CB00066979,CB00066980,CB00066981；r￥28；155.436；268；amcf；b3；emcf0305