工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
- 标准编号：GB/T 14849.5-2014
- 其他标准名称：Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 5:Determination of impurity contents―X-ray fluorescence method
- 标准类型：国家标准
- 发布日期：2014-12-05
- 实施日期：2015-05-01
- 标准分类：方法
- CCS：H12
- ICS：77.120.10
- 起草单位：昆明冶金研究院、中国铝业股份有限公司山东分公司、云南永昌硅业股份有限公司、中国铝业股份有限公司郑州研究院、通标标准技术服务有限公司、包头铝业有限公司、蓝星硅材料有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司、云南出入境检验检疫局
- 起草人：刘英波、赵德平、杨海岸、周杰、杨毅等
- 归口单位：全国有色金属标准化技术委员会
- 主管单位：中国有色金属工业协会
- 执行单位：全国有色金属标准化技术委员会轻金属分会
- 标准状态：有效
- 页数：0
- 发布年份：2014
- 部分代替标准：,
- 适用范围：GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定。