硅砖定量相分析.X射线衍射法
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  • 标准编号:YB/T 172-2000
  • 其他标准名称:PHASE QUANTITATIVE ANALYSIS OF SILICA BRICKS.X-RAY DIFFRACTION METHOD
  • 标准类型:行业标准
  • 关键词:硅砖 ; 定量相分析 ; X射线衍射法
  • 发布日期:2000-07-26
  • 实施日期:2000-12-01
  • 摘要:本标准规定了硅砖X射线定量相分析的定义、原理、仪器设备、标样、试样制备、定量分析、试验报告。本标准适用于硅砖中鳞石英、方石英及残余石英的定量分析。
  • CCS:Q41
  • ICS:81.080
  • 起草单位:洛阳耐火材料研究院;北京焦化厂山西盂县西小坪耐火材料有限公司
  • 归口单位:全国耐火材料标准化技术委员会
  • 标准状态:有效
  • 页数:7
  • 发布年份:2000
  • 适用范围:本标准规定了硅砖X射线定量相分析的定义、原理、仪器设备、标样、试样制备、定量分析、试验报告。本标准适用于硅砖中鳞石英、方石英及残余石英的定量分析。

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