厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
- 标准编号：GB/T 17473.4-1998
- 其他标准名称：Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of adhesion
- 标准类型：国家标准
- 关键词：贵金属 ; 粘附 ; 金属 ; 糊料 ; 试验 ; 电子工程 ; 测量
- 发布单位：中国有色金属工业总公司标准计量研究所
- 发布日期：1998-08-19
- 实施日期：1999-03-01
- 摘要：本标准规定了贵金属浆料附着力的测试方法。本标准适用于贵金属导体浆料附着力的测定。非贵金属浆料亦可参照使用。
- 标准分类：方法
- CCS：H22
- ICS：77.040.01
- 英文关键词：TRIALS ; PRECIOUS METALS ; TEST ; EXAMINATION ; NOBLE METALS ; PASTY ; MEASUREMENT ; METAL ; TESTING ; ADHESION ; MEASURING ; MEASUREMENTS ; METALS ; PASTES ; ELECTRONIC ENGINEERING ; TESTS
- 起草单位：昆明贵金属研究所
- 归口单位：全国有色金属标准化技术委员会
- 主管单位：中国有色金属工业协会
- 执行单位：全国有色金属标准化技术委员会
- 标准状态：无效
- 页数：6
- 发布年份：1998
- 作废日期：2008-09-01
- 部分代替标准：,
- 被代替标准：GB/T 17473.4-2008
- 适用范围：本标准规定了贵金属浆料附着力的测试方法。 本标准适用于贵金属导体浆料附着力的测定,非贵金属浆料亦可参照使用。