纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法
- 标准编号：GB/T 23413-2009
- 其他标准名称：Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials - X-ray diffraction line broadening method
- 标准类型：国家标准
- 关键词：尺寸 ; 晶体 ; 纳米材料 ; X射线 ; X射线分析
- 发布单位：全国微束标准化技术委员会
- 发布日期：2009-04-01
- 实施日期：2009-12-01
- 标准分类：方法
- CCS：N78
- ICS：19.100
- 英文关键词：DIMENSIONAL ; DIMENSIONS ; SIZE ; SIZE CONTENT ; SIZES ; CRYSTALS ; NANOMATERIALS ; X-RAYS ; X RAYS ; X-RAY ; X-RAY ANALYSIS
- 起草单位：钢铁研究总院、首钢技术研究院
- 起草人：方建锋、郑毅、李琪等
- 归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
- 主管单位：国家标准化管理委员会
- 执行单位：全国微束分析标准化技术委员会
- 标准状态：有效
- 页数：10
- 发布年份：2009
- 部分代替标准：,
- 适用范围：本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采 用的计算方法是近似函数法。本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 NM,微观应变一般不大于0. 1%的纳米材料。