A systematic investigation of the charging effect in scanning electron microscopy for metal nanostructures on insulating substrates
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- 作者：R. FLATABØ ; A. COSTE and M.M. GREVE
- 刊名：Journal of Microscopy
- 出版年：2017
- 出版时间：March 2017
- 年：2017
- 卷：265
- 期：3
- 页码：287-297
- 全文大小：1305K
- ISSN：1365-2818
文摘