Sistema Avanzado de Protipado Rápido para Control en la Educación en Ingeniería para grupos Multidisciplinares
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- 作者：Antonio Flores Caballero ; afcaball@ing.uc3m.es" class="auth_mail" title="E-mail the corresponding author ; Dorin Sabin Copaci ; Á ; lvaro Villoslada Peciñ ; a ; Dolores Blanco Rojas ; Luis Moreno Lorente
- 关键词：Educació ; n en control ; Herramientas docentes y laboratorios en automá ; tica ; CAD/CAM y CIM
- 刊名：Revista Iberoamericana de Automática e Informática Industrial RIAI
- 出版年：2016
- 出版时间：July-September 2016
- 年：2016
- 卷：13
- 期：3
- 页码：350-362
- 全文大小：461 K
文摘
Con el objetivo de alcanzar resultados satisfactorios en la enseñanza y puesta en práctica de cursos semestrales de ingeniería de control, en los que la presencia de alumnos de distintas disciplinas es más que notoria, se torna necesario recurrir a altos niveles de abstracción en la programación de los sistemas de control. Este alto nivel de abstracción procede del uso de un sistema de prototipado rápido para control de carácter avanzado, que permite recurrir a funcionalidades que no habían sido previstas en ningún entorno de prototipado rápido para control disponible con anterioridad. El carácter avanzado del sistema brinda soluciones desde el más alto nivel de abstracción, el denominado diseño basado en modelos, para las intricadas relaciones necesarias entre la ingeniería de control y la informática en tiempo real, permitiendo que los alumnos puedan centrar su esfuerzo en el desarrollo del algoritmo de control, la identificación de sistemas y el modelado de plantas físicas en lugar de preocuparse por las tediosas tareas de gestión y configuración a bajo nivel de la arquitectura hardware que están empleando. Gracias a este alto nivel de abstracción, que cubre el espectro abarcado por funcionalidades de muy bajo nivel y funcionalidades de muy alto nivel, el manejo del sistema propuesto se encuentra al alcance de audiencias multidisciplinares. El sistema avanzado de prototipado rápido para control se está empleando para cursos semestrales así como en multitud de Tesis de Máster y Doctorales.