Se analizó a los últimos 103 pacientes consecutivos a los que se realizó implante percutáneo de válvula aórtica SAPIEN XT antes de que se utilizara la válvula SAPIEN 3 y a los 105 pacientes consecutivos a los que se implantó la válvula SAPIEN 3. Con objeto de analizar los implantes de marcapasos permanentes y los trastornos de la conducción intraventricular de nueva aparición, se excluyó del estudio a los pacientes en los que se daban estas características en situación basal. Se registraron electrocardiogramas en situación basal, después de la intervención y antes del alta.
El uso del dispositivo SAPIEN 3 se asoció a un porcentaje superior de éxitos de implante del dispositivo (el 100 frente al 92%; p = 0,005) y un porcentaje inferior de fuga paravalvular (0 frente al 7%; p < 0,001). La incidencia de implantes de marcapasos permanente fue del 12,6% (23 de 183), sin que se apreciaran diferencias entre los dos grupos (SAPIEN 3, el 12,5% [12 de 96]; SAPIEN XT, el 12,6% [11 de 87]; p = 0,99). El uso del dispositivo SAPIEN 3 se asoció a mayor frecuencia de trastornos de la conducción intraventricular de nueva aparición (el 49 frente al 27%; p = 0,007) como consecuencia de la mayor frecuencia de bloqueos fasciculares (el 17 frente al 5%; p = 0,021). No hubo diferencia estadísticamente significativa por lo que respecta a los bloqueos de rama izquierda transitorios frente a persistentes (el 29% [20 de 69] frente al 19% [12 de 64]; p = 0,168) al comparar el SAPIEN 3 con el SAPIEN XT (el 28% [19 de 69] frente al 17% [11 de 64]; p = 0,154).
Se observó una tendencia a mayor frecuencia de trastornos de la conducción intraventricular de nueva aparición con SAPIEN 3 que con SAPIEN XT, si bien esto no conllevó mayor frecuencia de implante de marcapasos permanentes.