铁电陶瓷裂纹尖端畴变的原位Raman观测

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• 作者：张飒程璇张颖
• 会议时间：2005-10-14
• 关键词：铁电陶瓷 ; 畴变 ; Raman光谱 ; 维氏压痕
• 作者单位：张飒(厦门大学,化学化工学院,厦门,361005)程璇(厦门大学,材料科学与工程系,厦门,361005;厦门大学,固体表面物理化学国家重点实验室,厦门,361005)张颖(厦门大学,材料科学与工程系,厦门,361005)
• 母体文献：中国有色金属学报
• 会议名称：第十届全国青年材料科学技术研讨会
• 会议地点：长沙
• 主办单位：中国有色金属学会
• 语种：chi

摘要

从Raman光散射原理出发,提出原位Raman畴变观测原理,研究建立铁电畴变的原位、无损和微区的观测技术.通过在PLZT铁电陶瓷试样表面引入维氏压痕,原位观测裂纹尖端在应力集中和电场作用下畴变的Raman谱图的软模峰强变化,建立畴变与Raman光谱之间的联系,从而证实可以利用Raman光谱的变化来检测铁电陶瓷材料电畴的畴变.实验结果表明:Raman光谱强度的变化是实验样品中平均极化方向与Raman入射光和散射光的偏振方向相互关系的改变所致;当样品极化方向与Raman偏振方向一致时,样品中畴的极化偶极子矢量方向与Raman入射光的偏振方向相互平行,这时Raman入射光电场通过样品感应极化率张量x(u)引发的散射光的感应极化强度效应增大,因而Raman散射光强度Is也提高.