算术等间隔密集采样技术的应用及其对瞬变电磁(TEM)法探测结果的影响
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  • 作者：周安昌
  • 会议时间：2003-11-07
  • 关键词：瞬变电磁法 ; 算术等间隔密集采样 ; 探测分辨率
  • 作者单位：北京赛诺静远科技发展有限公司
  • 母体文献：第六届中国国际地球电磁学术讨论会论文集
  • 会议名称：第六届中国国际地球电磁学术讨论会
  • 会议地点：北京
  • 主办单位：中国地球物理学会
  • 语种：chi
摘要
瞬变电磁法(TEM)对数间隔窗口数据存在局限性.改用算术间隔数据,可延长有效窗口的使用时间.同等条件下,可加大TEM法的探测深度.算术间隔TEM法还可提高实际探测结果的分辨能力,特别是大大提高深部探测的分辨率.

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