CCD图像边缘位移检测法及其应用
- 作者：杨博雄陈志高欧同庚刘海波郑勇
- 会议时间：2004-08-01
- 关键词：亚像素定位 ; 边缘检测 ; 直线拟合 ; 光电自准直仪
- 作者单位：中国地震局地震研究所(武汉
- 母体文献：2004年全国测绘仪器综合学术年会论文集
- 会议名称：2004年全国测绘仪器综合学术年会
- 会议地点：成都
- 主办单位：中国测绘学会
- 语种：chi
摘要
CCD的分辨力是影响新型光电自准直仪测量精度和准确度的关键因素,边缘检测法是CCD位移测量的主要方法.本文对数字图像处理中直线拟合边缘检测法进行详细介绍,并将其应用到高精度一维光电自准直仪的研制中来.