a-Si FPD在闪光X光照相中的成像性能实验研究

详细信息    查看全文 | 下载全文 | 推荐本文 |

• 作者：肖智强
• 会议时间：2007-05-22
• 关键词：闪光X照相 ; 成像性能 ; 无损检测 ; 非晶硅平板探测器
• 作者单位：中国工程物理研究院流体物理研究所101室,四川绵阳919-101信箱,621900
• 母体文献：第十届全国无损检测新技术学术会议
• 会议名称：第十届全国无损检测新技术学术会议
• 会议地点：成都
• 主办单位：中国机械工程学会
• 语种：chi

摘要

非晶硅平板探测器已在无损检测、医疗领域的连续式X光照相中得到了广泛应用,但在脉冲式(ns级)的闪光X光照相中的应用可行性及成像性能却未见报导。本文利用Varian公司生产的PaxScan 2520 HE型非晶硅平板探测器为接收系统,在450keV脉冲X光机上开展了闪光照相实验,考察了该探测器的应用可行性,测量了其探测灵敏度、像质计灵敏度、线扩散函数(LSF)及调制传递函数(MTF)。实验结果表明该探测器可应用于闪光X光照相,且探测灵敏度高,空间分辨率好,是一种有前景的闪光X光照相图像接收系统。