电子束辐照下316L奥氏体钢氧化膜的能量损失谱研究

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• 作者：邢辉孙坚张乐福
• 会议时间：2010-10-08
• 关键词：电子束辐照 ; 奥氏体钢氧化膜 ; 能量损失谱
• 作者单位：邢辉,孙坚(上海交通大学 材料科学与工程学院,上海 200240)张乐福(上海交通大学 核科学与工程学院,上海 200240)
• 母体文献：2010年全国电子显微学会议暨第八届海峡两岸电子显微学研讨会论文集
• 会议名称：2010年全国电子显微学会议暨第八届海峡两岸电子显微学研讨会
• 会议地点：杭州
• 主办单位：中国物理学会
• 语种：chi

摘要

@@水在超临界状态下,各种物理化学性质,如密度、离子性产物浓度、介电常数、溶解氧浓度等均发生了很大的变化,并且超临界状态的水处于更高的温度,对金属材料的腐蚀性极强。本文对316L奥氏体钢在600℃/23 MPa超临界水环境中腐蚀后形成的表面氧化膜结构进行了透射电镜(JEOL 2100F)分析,并对电子束辐照下氧化膜的化学成分和电子结构的变化进行电子能量损失谱(Catan Enfima)分析。