X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料主次成分

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• 作者：王本辉胡坚
• 会议时间：2010-09-12
• 关键词：X射线荧光光谱法 ; 玻璃熔片 ; 镁质耐火材料 ; 主次成分 ; 含量测定
• 作者单位：国家耐火材料质量监督检验中心,河南 洛阳 171039
• 母体文献：第十五届冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2010)论文集
• 会议名称：第十五届冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2010)
• 会议地点：北京
• 主办单位：中国金属学会
• 语种：chi

摘要

以无水四硼酸锂作熔剂,采用玻璃熔片法制样,建立了测定镁质耐火材料中Al2O3,SiO2,Fe2O3,TiO2,CaO,MgO等组分的X射线荧光光谱法(XRF)。根据镁质耐火材料中主次成分含量范围,采用标准样品配制出被测组分具有合适含量范围和浓度梯度的校准样品绘制校准曲线。并对基体效应校正进行了探讨。将x射线荧光光谱法用于镁质试样的分析,并与化学结果或ICP-AES结果进行比对,测试结果吻合。