X荧光压片法在镁质耐火材料分析中的应用

详细信息    查看全文 | 下载全文 | 推荐本文 |

• 作者：崔黎黎
• 会议时间：2009-11-12
• 关键词：镁质耐火材料 ; 粉末直接压片 ; 化学成分 ; 多元素分析 ; X射线荧光光谱法
• 作者单位：钢铁研究总院,北京 100081
• 母体文献：第七届中国钢铁年会论文集
• 会议名称：第七届中国钢铁年会
• 会议地点：北京
• 主办单位：中国金属学会
• 语种：chi

摘要

采用X射线荧光光谱法快速测定镁质耐火材料(包括原料镁砂及其制品镁砖)中的MgO、SiO2、 Fe2O3、CaO、MnO、Al2O2等6种组分。利用粉末直接压片法制取试样,确定仪器最佳参数,系列标样建立工作曲线,经验系数法对基体进行校正。方法简单,快速,准确。当试样中MgO、SiO2、Fe2O3、CaO、MnO和Al2O3 的质量分数分别为95.08%、1.42%、0.762%、2.133%、0.046%和0.468%时,其测定结果的相对标准偏差分别为0.071%、0.26%、0.10%、0.16%、0%和0.65%。应用于镁质耐火材料的6种组分的测定取得了令人满意的结果。