X射线荧光光谱法测定含镍矿热炉渣中组分
- 作者：LI Qi-te李奇特LIU Xian-bin刘宪彬GAO Meng高猛
- 会议时间：2012-10-31
- 关键词：冶金分析 ; 含镍炉渣 ; X荧光光谱仪 ; 压片法 ; 成分分析
- 作者单位：LI Qi-te,LIU Xian-bin,GAO Meng(Sinosteel Binhai Industrial Company Limited, Cangzhou 061113, China)李奇特,刘宪彬,高猛(中钢集团滨海实业有限公司,河北沧州061113)
- 母体文献：2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)论文集
- 会议名称：2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)
- 会议地点：北京
- 主办单位：中国金属学会
- 语种：chi
摘要
通过对镍基体料炉渣的研究,用压片法制备样片,X荧光光谱法进行测定矿热炉渣中TFe、SiO2、CaO、MgO、Al2O3的含量。因目前国内没有与之对应的标准样品,通过化学法多次定值,取平均值做为控制样品建立校准曲线,对元素之间的干扰效应进行校正,找出了最适宜的检测方法,镍基体料炉渣中的硅含量较高,其浓度在(43%~53%)测定范围内测稳定性。本方法的精密度和准确度在不同实验室之间分析结果基本一致,本方法与化学分析法、ICP-AES法比较,操作简单,易于掌握,成本低,适合生产需要,结果吻合较好。