超细二氧化硅粉体脱除羟基方法的比较

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• 作者：申晓毅翟玉春陈昆明
• 会议时间：2006-10-13
• 关键词：超细二氧化硅粉 ; 醇盐水解法 ; 羟基脱除 ; 成分分析
• 作者单位：东北大学 材料与冶金学院,辽宁 沈阳 110004
• 母体文献：2006年全国博士生学术论坛——冶金工程分论坛论文集
• 会议名称：2006年全国博士生学术论坛——冶金工程分论坛
• 会议地点：沈阳
• 主办单位：国务院学位办
• 语种：chi

摘要

采用醇盐水解法制备球形超细二氧化硅粉体,成分分析和IR检测表明二氧化硅样品中含有大量的羟基,羟基的存在限制了二氧化硅的应用.采用了不同的方法焙烧二氧化硅样品,研究二氧化硅超细粉体脱除羟基,比较各方法脱除羟基对样品纯度和成分的影响,得到了样品失重曲线.实验结果表明,通过脱除羟基超细SiO2的纯度得到提高,可达到99.92%,实验得到了最好的脱除羟基方法.