某型号元器件的破坏性物理分析概述
- 作者：张延风韩少华乔明刘廷国
- 会议时间：2013-09-01
- 关键词：电子元器件 ; 破坏性物理分析 ; 产品质量 ; 判断标准
- 作者单位：西安现代控制技术研究所,西安710065
- 母体文献：2013年全国失效分析学术会议论文集
- 会议名称：2013年全国失效分析学术会议
- 会议地点：大连
- 主办单位：中国机械工程学会
- 语种：chi
摘要
电子元器件的可靠性水平决定了武器系统的可靠性,破坏性物理分析(DPA)是电子元器件控制的有效手段.DPA工作是一个系统工程,其工作重点在于"A"分析.以危害度为分析评判准则,结合某重点型号元器件进行了DPA试验及分析,提出有效的整改措施,可为相关的工程研制人员提供一定的借鉴.