凸双曲面SiC反射镜检测研究

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• 作者：钟兴金光
• 会议时间：2008-10-01
• 关键词：凸双曲面 ; 补偿器 ; 串接Hindle法 ; 加工检测 ; 光学系统 ; 精度检测 ; 球面反射镜
• 作者单位：钟兴(中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林 长春 130033 中国科学院研究生院,北京 100039)金光(中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林 长春 130033)
• 母体文献：2008年中国空间科学学会空间机电与空间光学专业委员会学术年会论文集
• 会议名称：2008年中国空间科学学会空间机电与空间光学专业委员会学术年会
• 会议地点：兰州
• 主办单位：中国空间科学学会
• 语种：chi

摘要

大口径、大相对孔径凸非球面的加工检测一直是限制反射式光学系统应用的瓶颈.通过对比传统的折射式补偿器设计和Hindle检测方法,设计了串接Hindle法用于φ134mm的SiC材质凸双曲面反射镜的检测,两个球面反射镜直径为φ220mm和φ280mm,避免了补偿器口径过大引起的加工困难和成本过高的问题,待检反射镜的中心不可检区仅为φ10mm.进一步对这种方法的精度进行了分析,认为满足进行高精度检测的要求.