氢氟酸直接进样-电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定氧化锆中多种杂质元素
- 作者：李剑孙友宝马晓玲陈建立黄涛宏谷口理端裕树
- 会议时间：2013-08-01
- 关键词：氧化锆材料 ; 杂质元素 ; 氢氟酸直接进样技术 ; 电感耦合等离子体原子发射光谱法
- 作者单位：李剑,孙友宝,马晓玲,陈建立,黄涛宏,端裕树(岛津全球应用技术支持中心 上海200052)谷口理(岛津制作所全球应用开发中心 日本京都6048511)
- 母体文献：第一届全国有色金属分析检测与标准化技术交流研讨会论文集
- 会议名称：第一届全国有色金属分析检测与标准化技术交流研讨会
- 会议地点：北京
- 主办单位：中国有色金属学会
- 语种：chi
摘要
采用氢氟酸微波消解法前处理氧化锆材料,使用氢氟酸进样系统,不需要赶酸直接测定GBW06602氧化锆标准样品中的多元素含量,根据样品情况确定了最佳分析条件和最佳分析谱线.实验结果表明,测定元素线性关系及重复性良好,定量准确,可同时测定氧化锆中的多种金属元素,该方法检出限低,精密度高,分析结果与标准值相吻合,完全满足氧化锆中多元素杂质含量的工业分析要求.