工业CT系统空间分辨率两种测试方法的分析与评价
- 作者：郭智敏徐向群乔日东倪培君齐子诚赵立伟唐盛明
- 会议时间：2013-09-20
- 关键词：金属分析试验 ; 无损检测 ; 电子计算机X射线断层扫描技术 ; 空间分辨率 ; 参数优化
- 作者单位：郭智敏,徐向群,乔日东,倪培君,齐子诚,唐盛明(中国兵嚣科学研究院宁波分院,宁波 315103)赵立伟(北京控制工程研究所,北京 100190)
- 母体文献：第十届全国无损检测学术年会论文集
- 会议名称：第十届全国无损检测学术年会
- 会议地点：南昌
- 主办单位：中国机械工程学会
- 语种：chi
- 分类号：R81;TM9
摘要
本文阐述了工业CT系统空间分辨率两种测试方法,并结合测试软件进行空间分辨率的测试.两种测试方法的对比实验在三套工业CT系统中,程同实验条件下实施,结果发现,圆盘法的测试结果要明显低于线对卡测试方法,最后讨论两种测试方法测试结果产生差异的原因.