关于圆轨迹锥束CT的伪影成因及校正方法的综述

详细信息    查看全文 | 下载全文 | 推荐本文 |

• 作者：谷建伟张丽
• 会议时间：2004-10-01
• 关键词：圆轨迹锥束CT ; 无损检测 ; 伪影校正
• 作者单位：清华大学工程物理系(中国北京
• 母体文献：2004年全国射线检测新技术研讨会论文集
• 会议名称：2004年全国射线检测新技术研讨会
• 会议地点：北京
• 主办单位：中国机械工程学会
• 语种：chi

摘要

圆轨迹锥束CT在工业无损检测领域内发挥着重要的作用.但在实践中,其重建的图像上有各种伪影.本文从CT的系统整体设计、X射线管和探测器等角度综述了影响伪影形成的各种因素,并对每种伪影的成因作了归纳;接着针对这些伪影,对近些年文献中的主要的校正方法作了介绍,并对这些校正方法作了比较和讨论,进行总结.