电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铁镍基高温合金中痕量硅
- 作者：杨国武刘晓波韩美刘庆斌胡净宇
- 会议时间：2013-10-22
- 关键词：铁镍基高温合金 ; 痕量硅 ; 含量测定 ; 电感耦合等离子体原子发射光谱法
- 作者单位：中国钢研科技集团有限公司钢研纳克检测技术有限公司,北京 100081
- 母体文献：第九届中国钢铁年会论文集
- 会议名称：第九届中国钢铁年会
- 会议地点：北京
- 主办单位：中国金属学会
- 语种：chi
- 分类号：O65;TG1
摘要
采用电感耦合等离子体原子发射光谱对高温合金中的痕量硅进行测定.对高温合金样品的消解,标准曲线的配制,分析谱线的选择,基体干扰的消除进行了较为深入的探讨.对普通的高温合金样品,使用比例为5:1 的盐酸与硝酸进行消解,而对于铌、钽等元素含量较高的高温合金样品,还需使用氢氟酸进行消解.基体干扰通过使用高温合金主成分打底配制标准曲线的方式进行消除.考察并确定了在紫外区常见干扰元素如硼、磷、硫等对硅元素的两条谱线184.685 和185.005 测定无明显干扰,但硅元素的185.005 谱线受到钽元素的重叠干扰,而184.685 谱线峰型不佳.实验表明,通过绘制钽的干扰曲线并计算干扰校正系数,进行数学校正后可得到准确的测定结果.硅元素两条谱线184.685 和185.005 的加标回收率在87%~107%之间,相对标准偏差小于5%.