粉末压片-X射线荧光光谱法测定三氧化二钒中主次成分
详细信息    查看全文 | 下载全文 | 推荐本文 |
摘要
采用粉末压片-X射线荧光光谱法测定三氧化二钒中V、P、Fe、K2O、Na2O、S等含量,通过选择合适的制样条件、确定仪器最佳参数,选用不同生产线生产的具有含量梯度的样品,通过化学定值后绘制校准曲线,以仪器提供的基体校正方法消除吸收与增强效应。该方法简便快速、有良好的精密度和准确度,所得结果与湿法化学结果一致,适用于大批量日常生产检测。

© 2004-2018 中国地质图书馆版权所有 京ICP备05064691号 京公网安备11010802017129号

地址:北京市海淀区学院路29号 邮编:100083

电话:办公室:(+86 10)66554848;文献借阅、咨询服务、科技查新:66554700