电感耦合等离子体原子发射光谱法测定纯钴中的痕量杂质元素
- 作者：HU Yue胡月PENG Xia彭霞ZHAO Yi-yao赵益瑶LIU Song刘颂
- 会议时间：2012-10-31
- 关键词：纯钴 ; 痕量杂质元素 ; 冶金分析 ; 电感耦合等离子体原子发射光谱法
- 作者单位：HU Yue,PENG Xia,ZHAO Yi-yao,LIU Song(China Iron and Steel Research Institute Group Co. , Ltd. , Beijing 100081, China)胡月,彭霞,赵益瑶,刘颂(中国钢研科技集团有限公司,北京100081)
- 母体文献：2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)论文集
- 会议名称：2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)
- 会议地点：北京
- 主办单位：中国金属学会
- 语种：chi
摘要
本文研究了快速测定纯钴中痕量杂质元素的分析方法.以王水(1+1)溶解纯钴,ICP-AES测定纯钴中的Al、As、Ca、Cr、Cu、Cd、Fe、Mg、Sn、V、Zn、Bi、Mn、Ni、Pb、Mo、Sb、Ti、Na、K、P、Si等痕量杂质元素.其检出限在0.3~3 μg/mL,相对标准偏差小于5%,加标回收率为90%~105%.该方法适用于纯钴中痕量杂质元素的测定.