电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯石墨中的痕量杂质元素
- 作者：HU Yue胡月ZHAO Yi-yao赵益瑶PENG Xia彭霞TAN Xiao谈笑
- 会议时间：2012-10-31
- 关键词：材料分析 ; 电感耦合等离子体原子发射光谱法 ; 高纯石墨 ; 痕量杂质 ; 提纯效果
- 作者单位：HU Yue,ZHAO Yi-yao,PENG Xia,TAN Xiao(China Iron and Steel Research Institute Group Co. , Ltd. , Beijing 100081, China)胡月,赵益瑶,彭霞,谈笑(中国钢研科技集团有限公司,北京100081)
- 母体文献：2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)论文集
- 会议名称：2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)
- 会议地点：北京
- 主办单位：中国金属学会
- 语种：chi
摘要
本文研究了快速测定高纯石墨中痕量杂质元素的分析方法,以满足提纯石墨研究工作对快速了解石墨提纯效果的要求。高纯石墨于马弗炉中900℃下完全灰化,ICP-AES测定高纯石墨中的痕量杂质元素。杂质元素的检出限在1~10 μg/mL,加标回收率达到96%~105%,该方法适用于高纯石墨中痕量杂质元素的测定。